GWI-Glass Wafer Inspection
GWI Sistemi ön üretim döngüsü glass wafer denetimi, wafer kusurlarını tespit etmek için tasarlanmıştır. Sistem hata tespitinde gerekli hassasiyeti karşılamak için yüksek çözünürlüklü akıllı kamera dayanmaktadır. Wafer denetlemesi akıllı kameralar tarafından yapılmaktadır. Wafer görüntüsü kameraya doğrudan aktarılır. Sonuç verisi ve görüntü PLC’ye transfer edilir. Aynı zamanda mevcut bulunan bir opsiyon görüntü bağlantısının kurulması kamerada sonuçların görünmesi içindir. Değerlendirme prosesini gerçekleştirmek, Ethernet çalıştırmak için, RS232 ve Güç I / O bağlantısı mevcuttur. Güç I / O da RS232 arabirimi içerir. GWI Sistemi, çizik, parçacıklar ve alt tabaka hataları gibi wafer yüzey hatalarını tespit eder.
GWI Sistem Kurulumu
Kurulum: Alüminyum (siyah)
Aydınlatma: alttan LED aydınlatma
Kamera Donanım
İŞLEMCİ
Çekirdek: ARM Cortex-A8 1 GHz (OMAP3730)
Önbellek: L1_ 32KB D + 32KB I, L2: 256 KB
SIMD NEON, 8 x 8 bit, VFPv3
800 MHz DSP TI DSP C64X
________________________________________
Bellek
DDR RAM 512 MB
FLASH 2x microSD 1x int., 1x ext.
________________________________________
I / O Arayüz
PLC 2 in / 4-Out isteğe bağlı 4 in / 8-Out
sonst. VGA Monitör, RS232, USB 2.0
________________________________________
Sensör Tipi
Mevcut CMOS ve CCD sensörler
Yazılım
GUI ile Linux İşletim Sistemi
- EyeVision RT 2.6Rxxx (Sürükle ve bırak)
- EyeWeb Webserver
- EyeControl (Uzaktan kumanda)
- eyeview ve EyeMultiView (en fazla 16 kamera ekran)
ÖRNEKLER